您的位置: 首页 > 送测须知 > 正文

FIB送样要求

发文时间:2024-05-16

1.为了减少对双束电镜的污染,延长电镜的使用寿命,样品必须无腐蚀性、无爆炸性、无剧毒性和无挥发性。

2.测试当天建议提前10 min达到电镜室,并携带相关文献或样品已有数据。不能到现场测试的应写明测试要求,包括材料性质、硬度、切样大小、厚度、区域、用途或预期结果等。默认的测试数据只提供选区和最后减薄去非晶的数据,需要制样过程的详细数据请在测试要求中加以说明。

3.导电性较差的样品需要喷金处理,中心可提供喷金等有偿制样服务。

4.测试要求如下:

1)预约人员必须按照预约时间送样测试,如因个人原因造成无法按预约机时进行测试的,仍需按系统所产生的费用计费。

2)测试样品要求:目前只能测试室温无机样品。尺寸大于2 μm以上的粉末样品可直接测试,建议粘附于导电胶上,且固定牢靠。薄膜/块体样品的尺寸原则上不超过2 cm,高度不超过1 cm,样品表面尽量平整。

3)利用FIB制备TEM样品的预约机时原则上不小于3.5个小时。

4)预约人员需提前告知样品是否容易在离子束辐照下发生形变等信息,这将直接影响测试结果的准确性。

5.下述情况需提前联系管理员再预约:

(1) 超磁性样品;(2) 超硬样品;(3) 离子束辐照下易分解样品。


下一条:SEM送样要求